我們?nèi)粘Ｉ钪校芏嗌钗锲范冀?jīng)過(guò)鍍膜機(jī)鍍上了一層膜層，讓產(chǎn)品不僅變得更美觀，也更實(shí)用。但是很多人會(huì)有一個(gè)疑問(wèn)，那既然是鍍了一層膜層，薄膜肯定是有厚度大小的，那么薄膜厚度具體多厚呢，以及怎么去測(cè)量？

       薄膜必須沉積在基底之上， 所以離開(kāi)了基片也就無(wú)從談薄膜沉積的問(wèn)題。基片的清洗好壞又對(duì)薄膜的質(zhì)最有極共重要的影響。同時(shí)在薄膜的制作中還必須知道薄膜的厚度，脫離了薄膜的厚度來(lái)談薄膜性質(zhì)的測(cè)最也是亳無(wú)意義的。 所以， 膜厚的測(cè)量和基片的清洗可以說(shuō)是和薄膜制作相關(guān)的重要技術(shù)。一般所謂的厚度是指兩個(gè)完全平整的平行平面之間的距離，這個(gè)概念是一個(gè)幾何概念。

        理想的薄膜厚度是指基片表面和薄膜表面之間的距離。在薄膜形貌的三維度量中，相對(duì)于薄膜的厚度來(lái)講，其他兩維的度量可以說(shuō)是無(wú)窮大。由于實(shí)際上存在的表面是不平整和不連續(xù)的，而且薄膜的內(nèi)部還可能存在著氣孔、雜質(zhì)、晶格缺陷和表面吸附分子等等，所有要嚴(yán)格地定義和精確地測(cè)量薄膜的厚度實(shí)際上是很困難的。

        膜厚的定義位當(dāng)根據(jù)測(cè)址的方法和測(cè)址的目的決定。 因此，同一個(gè)薄膜，使用不同的測(cè)量方法會(huì)得到不同的結(jié)果， 即不同的厚度。

        在薄膜油測(cè)量中的表面并不是一個(gè)幾何的概念，而是一個(gè) 物埋概念，是指表面分子（原子）的集合。 平均表面是指表面原子所有的點(diǎn)到這個(gè)面的距離代數(shù)和等于零， 平均表面是一個(gè)兒何概念。

        我們通常將基片的一側(cè)的表面分子的集合的平均表面稱(chēng)為基片表面；薄膜上不和基片接觸的那一側(cè)的表面的平均表面稱(chēng)為薄膜的形狀表面，將所測(cè)量的薄膜原子重新排列，使其密度和大塊狀固體材料完全一樣且均勻的分布在基片表面上，這時(shí)平均表面稱(chēng)為薄膜質(zhì)量等價(jià)表面；根據(jù)所測(cè)量薄膜的物理性質(zhì)等效為一種長(zhǎng)度和寬度與所測(cè)量的薄膜一樣的大塊固體材料的薄膜，這時(shí)的平均表面稱(chēng)為薄膜物性等價(jià)表面。 形狀膜厚是比較接近于直觀形式的膜厚， 通常以μm為單位； 質(zhì)量膜厚反映了薄膜中包含物質(zhì)為多少，通常 以 μg/cm#8217;為單位， 物性膜厚在實(shí)際使用上較有用， 而且比較容易測(cè)量。

         由于實(shí)際表面并不平整，同時(shí)薄膜制作過(guò)程中又不可避免地要有各種缺陷、 雜質(zhì)和吸附分子等存在，所以不管用哪 一種方法來(lái)定義和測(cè)量膜厚，都是一個(gè)平均值，而且足包括了雜質(zhì)、缺陷以及吸附分子在內(nèi)的薄膜的厚度值。

        真空鍍膜機(jī)鍍膜是在真空腔體下進(jìn)行鍍膜的，對(duì)于測(cè)量膜厚度來(lái)說(shuō)，是需要這方面專(zhuān)業(yè)的測(cè)量?jī)x才能測(cè)出厚度大小。